Phân tích dữ liệu nhiễu xạ và tán xạ 2D
XRD2DScan cho phép trực quan hóa dữ liệu được ghi lại từ đầu dò 2D PIXcel3D và PIXcel3D 2x2. Dữ liệu nhiễu xạ và tán xạ 2D chứa nhiều thông tin hơn so với dữ liệu 1D trong trường hợp mẫu thuộc dạng có kết cấu hoặc ví dụ đối với mẫu bột chứa cỡ hạt lớn hơn. Ngoài ra, từ dữ liệu 2D SAXS có thể thu được thông tin về các đặc điểm dị hướng của mẫu.
Tạo ra các bản quét 1D từ dữ liệu 2D
XRD2DScan có thể đọc các tệp XRDML 2D. Hỗ trợ tạo ra các kiểu quét 1D khác nhau: 2theta scan (xích đạo), gamma scan (trục), line scan (theo bất kỳ hướng nào), d-scan (d-value của một phản xạ cụ thể là một hàm của góc gamma). Các bản quét được xuất ra dưới dạng tệp ASCII sẽ được sử dụng với các chương trình khác. Các bản quét 2theta tương thích với HighScore, HighScore Plus và EasySAXS. Cũng có thể thực hiện việc tìm đỉnh tự động. Điều này cung cấp cho người dùng vị trí góc và cường độ của các đỉnh chứa trong mẫu nhiễu xạ 2D.
Định nghĩa theo các vùng 2D khác nhau và sự tích hợp cường độ
XRD2DScan hỗ trợ việc định ra các vùng 2D khác nhau; ví dụ, hình chữ nhật và góc. Sau đó có thể xuất các bản quét 2theta thu nhận từ các dữ liệu cường độ được ghi lại trong vùng đã chọn. Điều này cực kỳ hữu ích đối với các mẫu có kết cấu mạnh hoặc kích thước hạt lớn.
Tạo lớp mặt nạ che (masking) cho các tính năng
XRD2DScan hỗ trợ tạo mặt nạ che (masking) cho tính năng ở dữ liệu 2D; ví dụ, chùm tia trực tiếp hoặc phản xạ mạnh (ví dụ từ chất nền). Sau đó, người dùng có thể chỉ tập trung vào dữ liệu mà mình muốn nghiên cứu.
Xuất dữ liệu 2D dưới dạng hình ảnh
Có thể xuất dữ liệu 2D ra dưới dạng hình ảnh để sử dụng cho mục đích trình chiếu hoặc xuất bản.